日本日立高科 膜厚仪 测厚仪 SFT-110

2025-05-13 09:29:43 浏览次数:780收藏

详细描述

产品特点: 即放即测!  通过自动定位功能,放置样品后仅需几秒,便能自动对准观察样品焦点。    10秒钟完成50nm的极薄金镀层测量!  以的设计实现微小区域下的高灵敏度,即使在微小准直器(0.1、0.2mm)下,也能够大幅度地提高膜厚测量的精度。 无标样测量!  将薄膜FP软件进一步扩充,即使没有厚度标准物质也能进行高精度的测量。也可简单地测量多镀层膜和合金膜样品。 通过广域观察系统更方便选择测量位置!  通过广域观察系统,能够从画面上的样品整体图(大250×200mm)中方便地测量位置

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