二手日立XRF镀层测厚仪 膜厚仪 FT110A

2025-04-28 09:12:02 浏览次数:408收藏

详细描述

x荧光测厚仪 FT110A 是一款台式 XRF 分析仪,旨在应对生产中镀层分析的挑战。强大的 X 射线荧光技术与自动定位功能相结合,有助于提高电镀车间的生产力,同时确保组件符合最高标准。 准确性和可靠性是支持质量控制的 XRF 分析的核心,而 FT110A 可提供当今电镀组件所需的准确性。更新的成像系统、自动样品定位和大样品台使该分析仪非常易于使用,提高了通量并减少了人为错误。功能强大的 FT110A XRF镀层测厚仪能够同时测量多达四层以及基材,将全天候支持您的设施满足最高的行业电镀规范。

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